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SFT-4500

Nano Search ® Microscope

Nano Search ® Microscope
SFT-4500

Nano Search 현미경
레이저 현미경(LSM)과 Scanning Probe Microscope(SPM)의 결합으로 다양한 시료를 mm에서 nm까지 끊김없이 관찰·측정할 수 있는 새로운 장치입니다. 광학, 레이저, 프로브현미경으로 전환이 자유롭고, 이미지 획득까지 전문지식 없이도 간편한 조작으로 사용할 수 있습니다.

Nano Search ® Microscope
제품 사양

검경법 공초점 레이저, 공초점 레이저 미분 간섭, 컬러(밝은 시야),
HDR, 미분 간섭, 간이 편향
LSM관찰범위 2,560~16μm
SPM모드 Contact mode, Dynamic mode, Phase mode
Optional: KFM, Current, MFM
SPM관찰범위 최대 30 μm