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XRF-1800

Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer

Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer
XRF-1800

파장분산형 형광 X-선 분석장치
물질에 X-선을 조사하고 그 물질에서 발생되는 형광 X-선을 검출하여 시료에 들어있는 원소를 정성·정량분석 하는 장비입니다. CCD 카메라를 이용한 측정부위 관찰이 가능하며, 250 μm mapping 기능으로 제품의 편석 등을 확인할 수 있습니다. 또한 고차선 프로파일 표시기능으로 공존원소의 영향과 고차선의 영향을 명확히 확인할 수 있으며, 8개의 turret이 기본으로 장착되어 있으며, auto sampler를 이용하면 최대 40개의 sample 까지 자동으로 연속 분석 가능합니다.

제품 특징

■ 세계 최초의 250μm 매핑 파장 분산 형으로 제공 (특허)
불균일 시료의 함량 분포 강도 분포 분석 수 있습니다.

■ 고차선 프로파일을 이용한 정확한 정성 · 정량 분석​​ (특허 출원 중)
고차선 판정이보다 정확 해, 정성 및 정량 분석​​의 정확도 및 신뢰성이 향상됩니다.

■ 고분자 박막의 두께 측정 및 무기 성분 분석이 가능한 배경 FP 법 (특허)
수소의 정보를 콤프 턴 산란 / 레일리 산란의 강도 비를 이용하여 계산할 수 있습니다. 고분자 박막의 정보로 콤프 턴 산란 선의 이론 강도를 사용할 수 있습니다.

■ 국소 분석기구
독자 개발 특종 모양 슬라이딩 시야 제한 조리개에 따르면 r 방향과 시료 회전기구에 의한 θ 회전에 의해 30mm 径内의 임의의 위치를​​ 분석 할 수 있습니다.

■ CCD 카메라에 의한 시료 관찰도 가능 (옵션)
측정실 도입 위치에서 시료 용기를 측정 위치와 같은 포지셔닝을하고 나서 이미지를 캡처함으로써 측정 위치와 이미지를 맞출 수 있습니다. (특허 출원 중)

■ 고 신뢰성, 긴 수명의 4kW 얇은 창문 X 선관을 탑재 (3 년 보증)
평균 수명 5 년 이상 경력이있는 고 신뢰성 X 선관을 탑재. 기존의 3kWX 선관에 비해 가벼운 원소로 2 배 이상의 감도 향상을 달성했습니다. 또한 3 년 보증입니다.

■ 노하우를 집약 한 템플릿 기능과 매칭 기능
액체 · 분말 · 고체 · 금속 · 산화물 등 시료의 형태에 따라 조건이 포함되어 있기 때문에 그것을 바탕으로 최적의 조건을 만들 수 있습니다. 뛰어난 인물 판정 · 품종 분류 · 품종 판정 · 일치 검색의 4 종류의 매칭 기능 판정 검색이 가능합니다.

Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer
XRF-1800
분석원소범위 Be~U(진공, He 분위기)
X-ray tube 4 kW 박막
국소분석기능 분석경 500 μm
맵핑 250 μm